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        KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042參數簡介

            

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        品牌KARL DEUTSCH 有效期至長期有效 最后更新2023-09-13 09:17
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        KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042參數簡介

          KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042參數簡介
        王新宇
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        手機:13390167995
        電話:010-64714988-216
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        王新宇郵箱:tk8@handelsen.cn電話:010-64714988-216 王新宇微信二維碼
        KARL DEUTSCH自1949公司成立以來,一直致力于研發和生產無損檢測儀器和設備,是個傳統的家族企業。產品包括便攜式儀器,臺式儀器, 探頭和滲透裂紋檢測劑。典型的檢測任務是超聲波焊縫檢測,鑄件缺陷檢驗,用磁粉或滲透方法對鍛件裂紋檢測,軌道交通和航空安全系統中的部件檢測,以及壁厚和涂層厚度測量。
         
        KARL DEUTSCH涂層測厚儀(帶探頭)LEPTOSKOP 2042:
        大型圖形顯示48毫米×24毫米,帶照明
        校準選項:
        出廠前校準,立刻準備測量
        校準未知涂層
        零點校準
        未涂覆基材之一,多箔校準
        涂層材料校準
        校準數據可以單獨存儲在單獨的校準文件,并可以重新裝載
        可選的顯示模式,以獲得適應測量任務
        輸入和監控限制
        Windows下讀數存儲,方便文件管理
        可用的PC軟件EasyExport和ICOM
        多達999個讀數統計評估
        最小值,最大值,平均值,讀數,標準差,監測極限
        局部厚度和平均涂層厚度(DINEN ISO2808)
         
        技術參數:
        串行接口:將數據傳輸到RS232或USB瑗緣ww王王
        電源:通過電池,USB或電源裝置
        測量范圍:0 -20000微米(取決于探頭)
        測量速率:高達每秒2讀數
        存儲:最大9999,讀數高達140文件
        測量不確定度(校準后)
        涂層厚度<100微米:讀數+/-1微米的1%
        涂層厚度>100微米:讀數+/-1微米的1..3%
        涂層厚度>1000微米:讀數+/-10微米的3..5%
        涂層厚度> 10000微米:讀數+/- 100微米的5%

        型號:
        2442.100探頭
        2442.110探頭
        2442.120探頭
        2442.130探頭
        2442.140探頭
        2442.200雙極探頭
        2442.300微探探頭
        2442.310微型探頭
        2442.320微型探頭
        2442.330微型探頭
        2442.340微型探頭
        2442.350微型探頭
        2442.410微型探頭
        2632.002微型探頭
         KARL DEUTSCH涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042參數簡介

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