法國Phasics Kaleo MTF技術指導

法國Phasics  Kaleo MTF

 

產品介紹：

 

KaleoMTF儀器非常適合在設計、原型制作或生產階段測量透鏡組。它提供最完整的鏡頭表征：多波長的軸上和離軸MTF、輻射測量和波前誤差。即使在高CRA和FOV下，KaleoMTF測量精度也保持不變。

 

產品特點：

 

兼容大FOV（高達+/-90°）和CRA（高達50°）鏡頭

單次MTF和WFE測量

上下軸無限到有限配置

 

產品參數：

 

MTF同軸：準確度<1%*-重復性<0.5%*

MTF離軸：準確度<2%**-重復性<1%**

MTF最大頻率：1000磅/毫米

失真：準確度<0.5%-重復性<0.05%

OPD（同軸）：精度<20nmRMS-重復性<5nmRMS

 

法國Phasics  SID4-SWIR-HR

 

產品介紹：

 

SID4-SWIR-HR波前傳感器將Phasics的專利技術與InGaAs探測器集成在一起。由于其超高空間分辨率（160x128相位像素）和高靈敏度，它可以提供從900nm到1.7µm的精確波前測量。SID4-SWIR-HR是一種創新的解決方案，用于測試用于光通信、檢查儀器或軍事和監視設備中的夜視儀的SWIR光學系統。

 

產品特點：

 

擴展光譜范圍從0.9到1.7µm

超高分辨率–160x128相位像素

高靈敏度——與低能量紅外源兼容

 

產品特點：

 

波長范圍：0.9-1.7微米

孔徑尺寸：9.60x7.68平方毫米

空間分辨率：60微米

相位和強度采樣：160×128

分辨率（相位）：<2納米RMS

準確度（絕對）：15納米有效值

獲取率：30幀/秒

實時處理頻率*：7fps（全分辨率）*

界面：千兆以太網

尺寸(WxHxL)：55x63x100毫米³

重量：~500克

 

法國Phasics  Kaleo MultiWAVE

 

產品介紹：

 

Phasics正在通過一種能夠測量透射和反射波前誤差(TWE/RWE)的新儀器在光學計量方面進行創新。鍍膜和未鍍膜的光學元件在其工作波長下可以超過5.1英寸（130毫米）的直徑。KaleoMultiWAVE是購買多個干涉儀的有利替代方案且具有成本效益的解決方案。該系統提供的測量精度可與Fizeau干涉測量法相媲美。

 

產品特點：

 

按需提供任何波長：UV-VISIBLE-NIR-SWIR-MWIR-LWIR

同一個測試臺上的多個波長

納米相位分辨率和大動態（>500條紋）

 

產品參數：

 

配置：雙通

測量能力：反射面的測量能力RWE透明光學元件的TWE

每臺儀器的波長數：1或2（標準），最多8（定制）

自定義波長：從193nm到14μm的任何波長，包括：UV：266、355、405nm可見光/近紅外：550、625、780、940、1050nm短波紅外/中波紅外/長波紅外：1.55、2.0、3.39、10.6µm

清晰光圈：5.1英寸（130毫米）

光束高度：108毫米

對準系統：對準系統實時相位和澤尼克系數顯示

極化：與消偏光學兼容

對準視場：+/-2°

瞳孔對焦范圍：+/-2.5米

尺寸/重量：910x600x260毫米³，25公斤

隔振：不必要