IBS光學干涉儀ARINNA AR20

 

 

 

技術參數

 

AR20

Z 范圍 （μm） 1,6

每次捕獲 FOV （毫米） 0，28 x 0，28

Z 分辨率 （μm） 0,002

結果時間（秒） 1,5

工作距離（毫米） 20

分辨率為 15kHz 100納米@1kHz

零/偏移調整 不

典型的熱漂移 0，04% F.S.*/C

LED 范圍指示器 不

其他功能 兩個環境范圍 - 標準到 125C，高到 200C

 

 

 

 ARINNA 是一種高速干涉儀，它結合了納米級表面測量的優點、堅固性和小巧的占地面積，使其能夠在您需要的地方進行在線測量。雖然干涉儀帶來了速度、精度和無損測量的優勢，但階梯結構和嘈雜的環境通常是它們的局限性。ARINNA 并非如此。

 

ARINNA 采用的波長掃描技術避免了在測量頭中進行機械掃描的需要，正如一些干涉測量系統所采用的那樣。這克服了對測量速度和系統集成（例如頭部 360 度定向的能力）的相關限制。對于在線使用，ARINNA 的設計中集成了獲得專利的振動補償技術。這種技術避免了對大型和/或復雜的隔離系統的需要；有時是高精度光學測量系統在現場應用的限制因素。

 

ARINNA 能夠以 <2nm 的垂直分辨率測量離散的臺階高度和表面質量。百萬像素相機在 1 秒內捕獲表面掃描。它可用于在線缺陷檢測和表征、光學表面和結構測量、3D 表面拓撲測量、MEMS/NEMS 檢查等。